Projekt-ID: #PR1153351-2390-W

CD-SEM Rasterelektronenmikroskop - PR1153351-2390-W

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Projektbeschreibung

PR1153351-2390-W CD-SEM Rasterelektronenmikroskop

KI-Analyse

KI-gestützte Dokumentenanalyse

Lassen Sie die KI die Vergabeunterlagen analysieren und strukturierte Informationen zu Fristen, Anforderungen und Bewertungskriterien extrahieren.

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Vergabeunterlagen

Fragebogen zur Eignungspruefung.pdf

PDF • 9.2 KB

B_001_VergabebedingungenAwardConditions PR1153351-2390-W.pdf

PDF • 162.0 KB

B_002_KfmBedingungenCommercialTerms PR1153351-2390-W.pdf

PDF • 135.8 KB

B_003_ZuschlagskriterienAwardCriteria PR1153351-2390-W.pdf

PDF • 82.0 KB

B_004_AEB.pdf

PDF • 755.9 KB

B_005_NachhaltigkeitsstandardsSustainabilitystandards_06-2024.pdf

PDF • 542.7 KB

B_006_BankbürgschaftBankguarantee.pdf

PDF • 196.2 KB

B_Ablauf zweistufiges VerfahrenProcess two-step award procedure.pdf

PDF • 408.2 KB

C_001_Technische_Details_BieterName PR1153351-2390-W.xlsx

XLSX • 162.8 KB

C_002_Eigenerklärungen-Selfdeclaration.pdf

PDF • 498.0 KB

C_003_Export Classification Request Form.pdf

PDF • 210.9 KB

C_004_Eigenerklärung-Selfdeclaration - (EU) Nr. 833-2014.pdf

PDF • 163.0 KB

Aufforderung_zum_Teilnahmewettbewerb_Interessensbestaetigung.pdf

PDF • 71.9 KB

Leistungsverzeichnis Service specifications V 1.6.3.pdf

PDF • 12.4 KB

Technische Detailbeschreibung_PR1153351_CDSEM.pdf

PDF • 263.0 KB

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