SOC Test System - PR1025612-2270-W

Diese Spezifikation beschreibt die Anforderungen an ein Halbleitertestsystem (Mixed-Signal-Testsystem), das für die Post-Silicon-Verifizierung, Charakterisierung und Funktionsprüfung von integrierten Schaltungen und Chiplets bei der Fraunhofer EMFT eingesetzt werden soll. Das Testsystem muss Schnittstellen bereitstellen, die den Anschluss an ein industrielles Standard-Wafer-Probing-System sowie an ein industrielles Standard-Device-Handling-System ermöglichen. Das Testsystem muss in Hard- und Software mit einem bereits vorhandenen Advantest V93000-Testsystem der Fraunhofer-Gesellschaft kompatibel sein.