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Projekt-ID: #PR1216644-3220-P

FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P

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24.07.26 Frist

Projektbeschreibung

FIB & SEM system (HHI-01)

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1 Los

1 Stück FIB-SEM Dualbeam System Im Rahmen der Beschaffung soll ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB-SEM) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) ausgewählt werden. Das System wird für die Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von vorwiegend III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren sowie Resists und für die Halbleitertechnik typischen Prozessprodukten eingesetzt. Programmierbare und automatisierte Routinen sollten nach Möglichkeit konfigurierbar sein. Optionen - Fortgeschrittenenschulung für 15 Tage (2 Personen), Abfrage der Kontingente nach Bedarf - 1 Gasinjektionssystem mit weiteren Elementen, wird im Rahmen der Ausschreibung festgelegt - Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien

KI-Analyse

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Vergabeunterlagen

Fragebogen zur Eignungspruefung.pdf

PDF • 7.6 KB

1_B_AEB-SPT_04-26.pdf

PDF • 755.9 KB

1_B_Bankguarantee Form.pdf

PDF • 196.2 KB

1_B_Process two-step award procedure.pdf

PDF • 408.2 KB

1_B_Sustainabilitystandards_DE_06-2024.pdf

PDF • 239.4 KB

1_B_Sustainabilitystandards_ENG_06-2024.pdf

PDF • 272.9 KB

B_001_AwardConditions_HHI-01_PR1216644.pdf

PDF • 186.1 KB

B_002_CommercialTerms_HHI-01_PR1216644.pdf

PDF • 177.9 KB

Invitation to bid (EU wide tender).pdf

PDF • 84.3 KB

Aufforderung zur Angebotsabgabe EU.pdf

PDF • 84.0 KB

Aufforderung_zum_Teilnahmewettbewerb_Interessensbestaetigung.pdf

PDF • 73.7 KB

Leistungsverzeichnis Service specifications V 1.6.2.pdf

PDF • 13.1 KB

EUCA-APECS-HHI-01_PR1216644 (1).xlsx

XLSX • 29.7 KB

C_Export Classification Request Form.pdf

PDF • 210.9 KB

C_Self-declaration_Sanctions on Russia_EN_VO 833-2014_08.25.pdf

PDF • 102.6 KB

C_Selfdeclaration (123-124 GWB).pdf

PDF • 498.0 KB

C_Verhandlungsbedarf DE_PRxxx.pdf

PDF • 69.0 KB

C_Need for Negotiation EN_PRxxx.pdf

PDF • 68.9 KB

C_Self-declaration_Russland-Sanktionen_DE_VO 833-2014_08.25.pdf

PDF • 98.6 KB

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