FIB & SEM system (HHI-01)
1 Stück FIB-SEM Dualbeam System Im Rahmen der Beschaffung soll ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB-SEM) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) ausgewählt werden. Das System wird für die Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von vorwiegend III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren sowie Resists und für die Halbleitertechnik typischen Prozessprodukten eingesetzt. Programmierbare und automatisierte Routinen sollten nach Möglichkeit konfigurierbar sein. Optionen - Fortgeschrittenenschulung für 15 Tage (2 Personen), Abfrage der Kontingente nach Bedarf - 1 Gasinjektionssystem mit weiteren Elementen, wird im Rahmen der Ausschreibung festgelegt - Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien
Lassen Sie die KI die Vergabeunterlagen analysieren und strukturierte Informationen zu Fristen, Anforderungen und Bewertungskriterien extrahieren.
Fragebogen zur Eignungspruefung.pdf
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1_B_AEB-SPT_04-26.pdf
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1_B_Bankguarantee Form.pdf
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1_B_Process two-step award procedure.pdf
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1_B_Sustainabilitystandards_DE_06-2024.pdf
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1_B_Sustainabilitystandards_ENG_06-2024.pdf
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B_001_AwardConditions_HHI-01_PR1216644.pdf
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B_002_CommercialTerms_HHI-01_PR1216644.pdf
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Invitation to bid (EU wide tender).pdf
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Aufforderung zur Angebotsabgabe EU.pdf
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Aufforderung_zum_Teilnahmewettbewerb_Interessensbestaetigung.pdf
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Leistungsverzeichnis Service specifications V 1.6.2.pdf
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EUCA-APECS-HHI-01_PR1216644 (1).xlsx
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C_Export Classification Request Form.pdf
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C_Self-declaration_Sanctions on Russia_EN_VO 833-2014_08.25.pdf
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C_Selfdeclaration (123-124 GWB).pdf
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C_Verhandlungsbedarf DE_PRxxx.pdf
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C_Need for Negotiation EN_PRxxx.pdf
PDF • 68.9 KB
C_Self-declaration_Russland-Sanktionen_DE_VO 833-2014_08.25.pdf
PDF • 98.6 KB
Nachweis eines zertifizierten ISMS für den gesamten Projektzeitraum.
Sämtliche Kernmitglieder müssen Deutschkenntnisse auf C1-Niveau nachweisen.
Mindestens drei vergleichbare Projekte in Bundes- oder Landesbehörden in den letzten 5 Jahren.