Wafer Prober (IMS-04) - PR899917-2380-P

1 Stück Wafer Prober Das IMS benötigt einen Wafer Prober, der die automatisierte experimentelle Prüfung von photonischen integrierten Schaltungen (PIC) und Bauelementen im Wafermaßstab ermöglicht. Automatisiertes Sondieren ist notwendig, um eine schnelle Charakterisierung einer großen Anzahl von PIC und Bauelementen mit einem Minimum an menschlicher Beteiligung zu ermöglichen. Optionen - General System / Halbautomatisches Sondensystem für 300-mm-Wafer zur elektro-optischen Charakterisierung von photonischen integrierten Schaltungen Remote-Schnittstelle zur Einrichtung und Durchführung von Messungen / RS-232 und USB 2.0 - Spezifikationen für Vakuum-Waferchuck und Wafertisch Rückmeldung vom Fotodetektor an das Sondenpositionierungssystem - Automatisierter Wafer-Handler / Wafer-ID-Leser - Software / Die Software (zur Steuerung der Maschine und zur Analyse) muss archivierbar sein, und der IMS-Betreiber muss in der Lage sein, die Software im Falle eines Ausfalls des Betriebssystems oder von Hardwareteilen des PCs neu zu installieren